Сканирующий электронный микроскоп JEOL

Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL, Япония), интегрированный сэнергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument, Англия) - применим для электронно-микроскопических и рентгеноспектральных исследований объектов различной природы: анализ морфологии, анализ поверхности микро- и наноструктур, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т. д. Низковакуумный режим в модели JSM-6390LV позволяет изучать влажные или непроводящие образцы без специальной пробоподготовки. Максимальный размер образца составляет 6 дюймов. Энергодисперсионный анализатор Oxford Instruments X-ACT позволяет проводить качественный и количественный элементный анализ микро- и нанообъектов, картирование поверхности и сравнение спектров. Аналитическая станция позволяет осуществлять последовательный анализ и поэлементное сканирование множества участков в автоматическом режиме и обрабатывать данные применительно к соответствующим точкам наблюдения.