Лаборатория исследования микро- и наноструктур
Атомно-силовой микроскоп AIST-NT
Полностью автоматизированный сканирующий зондовый микроскоп SmartSPM (Aist-NT, Россия)
- Высокая скорость сканирования;
- Максимальный размер области сканирования 100х100х15 мкм;
- Точность позиционирования зонда и отсутствие искажений изображения за счет использования в сканере емкостных датчиков с обратной связью;
- Малошумящая регистрирующая система с ИК лазером для измерения чувствительных к свету образцов;
- Автоматизация измерений;
Ожэ-микроанализатор JEOL
Исследовательский комплекс на базе Оже-микроанализатора и энергодисперсионного рентгеноспектрального анализатора JEOL JAMP – 9500F. Предназначен для исследования внутренней структуры наноструктурированных материалов и многослойных покрытий. Наряду с качественным анализом поверхности предоставляет также информацию о количественном составе поверхности, исходя из интенсивности Оже-пиков. Позволяет анализировать химический состав поверхности и приповерхностных слоев, а в сочетании с ионным травлением – получать профили элементного и химического состава тонкопленочных образцов. Применим как для исследования материалов с объемной кристаллической структурой, так и для поликристаллических и аморфных материалов. Важным требованием к исследуемым материалам является совместимость с условиями высокого вакуума.
Рамановский спектрометр HORIBA
Спектрометр вынужденного комбинационного рассеяния (Рамановский спектрометр) HORIBA LabRam HR 800. Используется для определения и характеристики молекулярного и кристаллического состава материалов. Является бесконтактным неразрушающим методом. Принцип работы рамановского спектрометра основан на эффекте комбинационного рассеяния света или эффекте Рамана, возникающем при рассеянии лазерного излучения веществом. В рассеянном свете появляются дополнительные частоты, определяемые колебаниями молекул или кристаллических структур этого вещества. Анализ полученного спектра позволяет определять собственные частоты колебаний молекул/кристаллических структур рассеивающего вещества, а это, в свою очередь, дает информацию о химическом составе и структуре вещества.
Bruker D8 Discover
- фазовый и структурный анализ твердых тел (порошки, поликристаллы);
- исследование морфологии межслойных границ в многослойных структурах, с толщинами слоев вплоть до нескольких монослоев;
- изучение особенностей морфологии поверхности и приповерхностных слоев по глубине (от десятых долей нанометра);
- изучение структурных превращений в твердых растворах.
Сканирующий электронный микроскоп JEOL
Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL, Япония), интегрированный сэнергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument, Англия) - применим для электронно-микроскопических и рентгеноспектральных исследований объектов различной природы: анализ морфологии, анализ поверхности микро- и наноструктур, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач геологии, геоэкологии, наук о материалах, междисциплинарных исследований и т. д. Низковакуумный режим в модели JSM-6390LV позволяет изучать влажные или непроводящие образцы без специальной пробоподготовки. Максимальный размер образца составляет 6 дюймов. Энергодисперсионный анализатор Oxford Instruments X-ACT позволяет проводить качественный и количественный элементный анализ микро- и нанообъектов, картирование поверхности и сравнение спектров. Аналитическая станция позволяет осуществлять последовательный анализ и поэлементное сканирование множества участков в автоматическом режиме и обрабатывать данные применительно к соответствующим точкам наблюдения.