Применение – проведение исследований поверхности различных объектов с нанометровым пространственным разрешением в воздушной среде. 

Технические характеристики:  

• Высокая скорость сканирования; 
• Максимальный размер области сканирования 100х100х15 мкм; 
• Точность позиционирования зонда и отсутствие искажений изображения за счет использования в сканере емкостных датчиков с обратной связью; 
• Малошумящая регистрирующая система с ИК лазером для измерения чувствительных к свету образцов; 
• Автоматизация измерений; 

 Режимы работы: 

• Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ); 
• Атомно-силовая микроскопия (АСМ) 

Измерительные методики: 

• Контактная АСМ; 
• Бесконтактная АСМ; 
• Полуконтактная АСМ; 
• Метод фазового контраста; 
• Метод латеральных сил; 
• Магнитная силовая микроскопия; 
• Микроскопия зонда Кельвина; 
• Электросиловая микроскопия; 
• Микроскопия пьезоотклика; 
• Силовая спектроскопия; 
• Нанолитография